TY - JOUR AU - Ordoñez Miranda, José AU - Tranchant, Laurent AU - Hamamura, Satoki AU - Yabuki, Tomohide AU - Vega, Alejandro AU - Cervantes-Alvarez, Fernando AU - Alvarado-Gil, Juan José AU - Volz, Sebastian AU - Miyazaki, Koji PY - 2019/06/12 Y2 - 2024/03/29 TI - AUMENTO DEL TRANSPORTE DE CALOR MEDIANTE ONDAS ELECTROMAGNÉTICAS SUPERFICIALES JF - Ciencia & Desarrollo JA - CYD VL - 0 IS - 23 SE - Artículos DO - 10.33326/26176033.2018.23.757 UR - https://revistas.unjbg.edu.pe/index.php/cyd/article/view/757 SP - 46-54 AB - <p>Como es conocido, la conductividad térmica de una película delgada generalmente disminuye a medida que su&nbsp;espesor se reduce a través de valores nanométricos (Liu &amp; M. Asheghi, 2006); esto genera el sobrecalentamiento y la&nbsp;reducción de la vida útil de procesadores y otros componentes electrónicos (Pop, 2010). Sin embargo, dado que las&nbsp;películas más delgadas tienen mayores cocientes área/volumen, los predominantes efectos superficiales en&nbsp;nanopelículas permiten el transporte de energía térmica no solo dentro de sus volúmenes, sino también a lo largo de&nbsp;sus interfaces. En nanopelículas polares, este transporte superficial es impulsado por fonones-polaritones de&nbsp;superficie, los cuales son ondas electromagnéticas generadas por el acoplamiento de fonones y fotones a lo largo de&nbsp;sus superficies. Modelos teóricos predicen que estos polaritones pueden contribuir significativamente a la&nbsp;conductividad térmica en el plano de películas de SiO con espesores menores a 200 nm (Chen et al., 2005; Ordonez- 2&nbsp;Miranda et al., 2013). En el presente trabajo demostramos experimentalmente este aumento de la conductividad&nbsp;térmica, mediante las técnicas 3 y rejilla transitoria. Los resultados medidos a través de estas dos técnicas son consistentes y muestran que la conductividad térmica en el plano de una película de SiO de 20 nm de espesor a 2&nbsp;temperatura ambiente es el doble de su contraparte debida a fonones solamente. Mediciones adicionales de la&nbsp;difusividad térmica de películas de SiO revelan que esta propiedad térmica también aumenta para películas más 2&nbsp;delgadas, de tal manera que la relación (conductividad térmica)/(difusividad térmica) = capacidad calorífica&nbsp;volumétrica se mantiene independiente del espesor de la película. Los resultados experimentales obtenidos aquí&nbsp;abren una nueva vía para desarrollar nanomateriales térmicamente conductores útiles para una refrigeración&nbsp;electrónica eficiente.</p> ER -